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日本三豐表面粗糙度·輪廓測量一體機

簡要描述:
? 配有寬范圍且高分辨力的 Z 軸檢出器。
? 測量范圍
Z1 軸 (檢出器): 5mm (分辨力: 0.0008μm*測量范圍為0.05mm時適用)
X 軸: 100mm (分辨力: 0.05μm)
? 檢出器的延伸量:70mm (可固定在所需的位置)。
? 使用*FORMTRACEPAK 軟件提供了豐富多樣的分析功能以實現優良的表面紋理評估。

更新時間:2018-09-20

訪問量:1409

廠商性質:經銷商

生產地址:

規格

 

貨號CS-3200S4
 
 
測量范圍/ 分辨力
X 軸100mm/0.05µm
 
Z1 軸 (檢出器)
5mm/0.08µm
0.5mm/0.008µm
0.05mm/0.0008µm
Z2 軸 (立柱)1 µm
精度
(20ºC)
X 軸±(0.8+0.01L) µm (L= 測量長度(mm))
Z1 軸 (檢出器)±(1.5+|2H|/100) µm  H = 水平位置上的測量高度 (mm)
 
 
 
 
 
驅動部
直線度 (X 軸)正常使用下0.2µm/100mm
當伸出到0.4µm/100mm
測量速度表面粗糙度測量0.02, 0.05, 0.1, 0.2mm/s (4-step)
輪廓測量0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0mm/s (7級)
驅動速度X 軸 (水平方向)0 to 80mm/s 外加手動
Z2 軸 (垂直方向)0 to 20mm/s 外加手動
上/下移動300mm (電動)
傾角范圍±45º
 
 
 
檢出器
檢出方式差動感應
測力0.75mN
測針名稱標準測針 (用于粗糙度/輪廓測量)針尖角度: 60º 圓錐, 針尖半徑: 2µm, 金剛石針尖
圓錐型 (用于輪廓測量)針尖角度: 30º 圓錐, 針尖半徑: 25µm, 藍寶石針尖
測針上/ 下運作適用 (可在半空停頓)

注:雖然天然石材測量桌的外觀各有不同,但材料的穩定性是值得信賴的。

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